高低溫試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏丨h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)及質(zhì)量管理之用
高低溫試驗(yàn)箱溫度的測(cè)試方法:
測(cè)試點(diǎn)的位置及數(shù)量
1、在試驗(yàn)箱工作室內(nèi)容定出上、中、下三個(gè)水平測(cè)試面,簡(jiǎn)稱(chēng)上、中、下層,上層與工作室頂面的距離是工作室高度的1/10,中層通過(guò)工作室?guī)缀沃行?,下層在zui低層樣品架上方10mm處。
2、測(cè)試點(diǎn)位于三個(gè)測(cè)試面上,中心測(cè)試點(diǎn)位于工作室?guī)缀沃行?,其余測(cè)試點(diǎn)到工作室壁的距離為各自邊長(zhǎng)的1/10,但對(duì)工作室容積不大于1立方米的試驗(yàn)箱,該距離不小于50mm
3、測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量與工作室容積大小的關(guān)系為:工作室容積不大于2立方米時(shí),測(cè)試點(diǎn)為9個(gè);工作室容積大于2立方米時(shí),測(cè)試點(diǎn)為15個(gè);當(dāng)工作室容積大于50立方米時(shí),溫度測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量可以適當(dāng)增加。